*X線回折装置 [#w1ff227d] -結晶材料中にX線が角度θで入射したとき、結晶中の面間隔dの2面で回折されたX線の光路差は、2dsinθとなります。 -光路差がX線の波長の整数倍であった場合、回折X線の位相がそろい特定の角度で強い強度が検出されるため、回折ピークが観測できます。 -本研究室では、金ナノ粒子の回折ピークの半値幅を解析することにより、基板上に固定された金ナノ粒子の粒子径を評価しています。 -2θ/θ法により、材料の結晶構造を解析可能 -最大定格出力600W (40kV-15mA)、高速1次元検出器 ~ ~ #ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa/image/XRD.JPG,nolink,around,left,400x300) ~ →[[保有設備]]に戻る