*X線回折装置 [#w1ff227d]

-結晶材料中にX線が角度θで入射したとき、結晶中の面間隔dの2面で回折されたX線の光路差は、2dsinθとなります。
-光路差がX線の波長の整数倍であった場合、回折X線の位相がそろい特定の角度で強い強度が検出されるため、回折ピークが観測できます。
-本研究室では、金ナノ粒子の回折ピークの半値幅を解析することにより、基板上に固定された金ナノ粒子の粒子径を評価しています。
-2θ/θ法により、材料の結晶構造を解析可能
-最大定格出力600W (40kV-15mA)、高速1次元検出器
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#ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa2/image/XRD1a.JPG,nolink,around,left,400x300)
#ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa2/image/XRD2a.JPG,nolink,around,left,400x300)
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