・透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)は電子線を絞って電子ビームを試料に照射し、試料を透過した電子線を結像して、蛍光板またはCCDカメラで観察する装置です。 ・本装置(HT7820、日立製作所)では、最大80万倍の観察(HRモード)が可能です。 ・数ナノメータの試料の透過像を観察するため、電子線の加速電圧は最大120kVまで印加することが可能です。 ・観察する試料は、個体の場合は薄片を支持膜付Cuグリッドに載せた状態で観察します。液体(ナノ粒子分散液など)の場合は、グリッド上に滴下するだけで観察可能です。 -透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)は電子線を絞って電子ビームを試料に照射し、試料を透過した電子線を結像して、蛍光板またはCCDカメラで観察する装置です。 -本装置(HT7820、日立製作所)では、最大80万倍の観察(HRモード)が可能です。 -数ナノメータの試料の透過像を観察するため、電子線の加速電圧は最大120kVまで印加することが可能です。 -観察する試料は、個体の場合は薄片を支持膜付Cuグリッドに載せた状態で観察します。液体(ナノ粒子分散液など)の場合は、グリッド上に滴下するだけで観察可能です。 #ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa/image/TEM.jpg,nolink,around,left,391x294) #ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa/image/x200k-1.jpg,nolink,around,left,391x294) #ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa/image/x800k-1.jpg,nolink,around,left,391x294)