卓上走査型電子顕微鏡のバックアップ差分(No.4)

バックアップ一覧
現在との差分を表示
ソースを表示
バックアップを表示
卓上走査型電子顕微鏡へ行く。
- 1 (2014-07-11 (金) 21:34:45)
- 2 (2014-07-11 (金) 21:38:54)
- 3 (2014-07-15 (火) 17:06:33)
- 4 (2014-08-11 (月) 03:56:30)
- 5 (2014-09-19 (金) 03:16:45)
- 6 (2015-03-06 (金) 03:35:36)
- 7 (2017-05-05 (金) 13:19:46)
- 8 (2020-03-26 (木) 02:52:29)

追加された行はこの色です。
削除された行はこの色です。

#ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa/image/sem1.JPG,nolink,around,left,300x220)
-走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）は電子線を絞って電子ビームを試料に照射し、試料表面から放出される二次電子を検出する事で試料を観察する装置です。
-本装置では最大4万倍で観察が可能です。
~
#ref(http://home.kanto-gakuin.ac.jp/~yagyu/yagmasa/image/sem1.JPG,nolink,around,left,450x300)