卓上走査型電子顕微鏡 †

• 走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）は電子線を絞って電子ビームを試料に照射し、試料表面から放出される二次電子を検出する事で試料を観察する装置です。
• 本装置（島津理化製、e-SEM）では最大4万倍で観察が可能です。
  
  
  
  
  
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