• 透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)は電子線を絞って電子ビームを試料に照射し、試料を透過した電子線を結像して、蛍光板またはCCDカメラで観察する装置です。
  • 本装置(HT7820、日立製作所)では、最大80万倍の観察(HRモード)が可能です。
  • 数ナノメータの試料の透過像を観察するため、電子線の加速電圧は最大120kVまで印加することが可能です。
  • 観察する試料は、個体の場合は薄片を支持膜付Cuグリッドに載せた状態で観察します。液体(ナノ粒子分散液など)の場合は、グリッド上に滴下するだけで観察可能です。
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Last-modified: 2020-11-28 (土) 16:10:46 (790d)