- 透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：TEM）は電子線を絞って電子ビームを試料に照射し、試料を透過した電子線を結像して、蛍光板またはCCDカメラで観察する装置です。
- 本装置（HT7820、日立製作所）では、最大80万倍の観察（HRモード）が可能です。
- 数ナノメータの試料の透過像を観察するため、電子線の加速電圧は最大120kVまで印加することが可能です。
- 観察する試料は、個体の場合は薄片を支持膜付Cuグリッドに載せた状態で観察します。液体（ナノ粒子分散液など）の場合は、グリッド上に滴下するだけで観察可能です。
|
![[PukiWiki]]( image/title.gif "[PukiWiki]")
