X線回折装置

  • 結晶材料中にX線が角度θで入射したとき、結晶中の面間隔dの2面で回折されたX線の光路差は、2dsinθとなります。
  • 光路差がX線の波長の整数倍であった場合、回折X線の位相がそろい特定の角度で強い強度が検出されるため、回折ピークが観測できます。
  • 本研究室では、金ナノ粒子の回折ピークの半値幅を解析することにより、基板上に固定された金ナノ粒子の粒子径を評価しています。
  • 2θ/θ法により、材料の結晶構造を解析可能
  • 最大定格出力600W (40kV-15mA)、高速1次元検出器

    XRD1a.JPG
    XRD2a.JPG

    保有設備に戻る

トップ   編集 凍結解除 差分 バックアップ 添付 複製 名前変更 リロード   新規 一覧 単語検索 最終更新   ヘルプ   最終更新のRSS
Last-modified: 2022-05-07 (土) 15:54:37 (265d)