X線回折装置 †

• 結晶材料中にX線が角度θで入射したとき、結晶中の面間隔dの2面で回折されたX線の光路差は、2dsinθとなります。
• 光路差がＸ線の波長の整数倍であった場合、回折X線の位相がそろい特定の角度で強い強度が検出されるため、回折ピークが観測できます。
• 本研究室では、金ナノ粒子の回折ピークの半値幅を解析することにより、基板上に固定された金ナノ粒子の粒子径を評価しています。
• 2θ/θ法により、材料の結晶構造を解析可能
• 最大定格出力600W (40kV-15mA)、高速1次元検出器
  
  
  
  
  
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